Máy đo độ dày lớp mạ Hitachi FT110A

FT110A là giải pháp phân tích độ dày lớp phủ theo các tiêu chuẩn ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987

Máy XRF đo độ dày lớp phủ FT110A có chức năng lấy nét tự động mới tự động lấy nét trên mẫu để thu được hình ảnh quang học trong vòng vài giây. Không cần điều chỉnh thủ công, cho phép phân tích lượng mẫu lớn với năng suất cao.

Đặc điểm, tính năng

Hoạt động dễ dàng: Khi một mẫu được đặt trên sân khấu, hình ảnh quang học của mẫu sẽ tự động được hiển thị.

Đo chính xác độ dày lớp phủ Au 50nm trong 10 giây: Hình học tối ưu cung cấp độ nhạy cao hơn ngay cả dưới chùm tia vi mô, cho phép độ chính xác đo cao hơn với ống chuẩn trực 0,1 hoặc 0,2 mm.

Đo không có mẫu chuẩn: Việc đo có thể được thực hiện mà không cần (các) mẫu chuẩn độ dày bằng cách mở rộng phần mềm FP. Đo màng đa lớp và màng hợp kim có thể được thực hiện dễ dàng.

Định vị dễ dàng bằng Hệ thống Chế độ xem rộng (tùy chọn): Với Hệ thống Chế độ xem rộng mới (tùy chọn), có thể quan sát toàn bộ hình ảnh mẫu (kích thước tối đa 250×200 mm) và có thể chỉ định vùng đo mong muốn.

Thông số kỹ thuật của FT110A

Dải đo	Ti – U
Nguồn tia X	Ống tia X nhỏ, làm nguội bằng không khí, hiệu điện thế 50kV, 1mA dòng điện
Đầu dò	Bộ đếm tỷ lệ – Proportional Counter
Ống chuẩn trực	Hình tròn đường kính 0.1 mm, 0.2 mm
Quan sát	Camera CCD (có thể kết hợp với Wide View System)
Lấy nét mẫu	Sử dụng ống Laser
Bộ lọc	Gồm bộ lọc cơ bản, tự động thay đổi
Khay chứa	W x D x H = 500 x 400 x 150 (mm) Tốc truyền Phương X: 250 mm Phương Y: 200 mm
Điều khiển	Máy tính để bàn có màn hình 19 inch LCD
Phần mềm	Độ dày lớp mạ tính toán theo kinh nghiệm (tất cả các loại lớp mạ, tối đa 05 lớp với đa nguyên tố) Đường chuẩn
Xử lý dữ liệu	Excel, Word
An toàn	Buồng chứa có khóa an toànNgăn chặn mẫu rớt Chẩn đoán
Lựa chọn thêm	Phần mềm xử lý ảnhGiải pháp tính toán theo kinh nghiệm cho mẫu khối (phân tích thành phần vật liệu) Giải pháp đường chuẩn cho mẫu khối (phân tích lớp phủ)