Coating Thickness Gauge MICRO PIONEER XRF-2020H

MICRO PIONEER XRF-2020H – Thông số kỹ thuật chính

1. Tổng quan thiết bị

• Thiết bị phân tích XRF (X-Ray Fluorescence) dùng để đo độ dày lớp phủ và thành phần hợp kim.
• Có khả năng phân tích nhanh, chính xác, không cần chuẩn bị mẫu phức tạp.
• Hệ thống tự động, dễ sử dụng với giao diện đồ họa thân thiện.

2. Camera và Quang học

• Camera CCD màu độ phân giải cao.
• Màn hình LCD phẳng độ phân giải cao.
• Hình ảnh video chồng lên màn hình hiển thị mẫu.
• Laser lấy nét và đèn LED chiếu sáng mẫu có thể điều chỉnh bằng chuột.
• Reticule (lưới ngắm) màu do máy tính tạo ra.
• Hệ thống căn chỉnh tia X với hình ảnh video.

3. Buồng đo

• Kích thước: Cao 24”, Rộng 24.4”, Sâu 27”.
• Buồng đo có điều khiển nhiệt độ cho buồng và bộ tiền khuếch đại.

4. Tia X và Ống tia

• Ống tia X tungsten, làm mát bằng dầu (có tùy chọn ống micro-focus ổn định, làm mát bằng không khí).
• Tia X hiển thị kích thước thực tế trên màn hình.
• Bảo hành ống tia X: 2 năm (gấp đôi so với các hãng khác).

5. Giai đoạn di chuyển mẫu (Stage)

• Giai đoạn motor hóa 3 chiều X-Y-Z, có thể lập trình.
• Kích thước bàn đặt mẫu: 12” x 10”.
• Hành trình: X=8”, Y=6”, Z=4.25”.
• Điều khiển bằng chuột, có chế độ tự động định vị mẫu.
• Chế độ bảo vệ tự động cho detector và ống tia X.
• Chuyển mẫu tự động với laser tích hợp.

6. Hệ thống máy tính và phần mềm

• Hệ điều hành Windows Pro.
• Giao diện người dùng đồ họa hiển thị phổ, thống kê, biểu đồ (X-Bar & R, CP, CPK, CV, Histogram).
• Các bộ lọc đo kỹ thuật số đa dạng.
• Phân tích dung dịch mạ kim loại trong vòng 60 giây không cần chuẩn bị mẫu.
• Các báo cáo tùy chỉnh với logo công ty.

7. Bộ đổi collimator (tùy chọn)

• Bộ đổi 5 vị trí tự động với các kích thước: 4 mils, 8 mils, 12 mils, 16 mils và 2×12 mils.
• Cho phép đo độ dày lớp phủ 2D/3D.

8. Detector

• Có thể sử dụng Proportional Counter, Pin Diode hoặc SDD.

9. Chức năng đo

• Chế độ kích thích theo tiêu chuẩn ISO 3497-A1.
• Đo đồng thời độ dày và thành phần hợp kim nhiều lớp.
• Hiệu chỉnh mật độ lớp phủ.
• Đo hợp kim và lớp phủ đơn hoặc nhiều lớp.